このサイトでは、利便性の向上を目的として、Cookieを使用しています。引き続きこのサイトを利用・閲覧すると、お客さまが当社のCookie利用に関するポリシーに同意したものと見なされます。なおCookieを無効にすると、サイトの一部の機能を使用できなくなる場合があります。

同意して閉じる

断面観察・断面分析

断面観察・断面分析

集束イオンビーム(FIB)により作製した断面をFE-SEMで高分解能観察を行う手法です。微小領域を高精度で断面加工・観察、および組成分析(SEM/EDS測定)を行うことが可能です。
また、連続して断面観察像を取得することで、3次元構造解析を行うことができます。